Студентам > Дипломные работы > Стереотелевизионные системы
Стереотелевизионные системыСтраница: 9/12
Рисунок 7.27.
Первоначально для расчета надежности необходимо
принять модель отказов электрорадиоэлементов. В радиоэлектронной
аппаратуре моменты отказов формируют поток сл3ча6ых событий (поток отказов). Отказы,
возникающие н6а этапе нормальной работы устройства, являются внезапными, не связанными
со старением и износом. Поток внезапных отказов хорошо описывается моделью простейших
отказов, для которой характерны свойства ординарности, стационарности и отсутствие
последействия.
Свойство ординарности заключается в невозможности
появления двух и более отказов в единичном интервале времени про сравнению с вероятностью
появления одного отказа и выполняется для первичных отказов. Стационарность потока
характеризуется постоянством среднего числа отказов в единичном интервале вре6мени,
а отсутствие последействия – независимостью появления отказов в единичном интервале
времени от появления отказов во всех предшествующих интервалах
t.
Вероятность безотказной работы элемента
рассчитывается по формуле:
t
Р (l) = exp {- ò l (t)
d t},
0
где l (t) – функция
интенсивности отказов. Так как в период нормальной работы интенсивность отказов
можно считать постоянной во времени, то выражение можно представить в виде:
l (t) = const, P (l)
= exp {- l t}.
Дальнейший расчет производится при следующих
допущениях:
1)
все однотипные элементы равноценны;
2)
поток отказов простейший;
3)
все элементы работают в нормальном режиме;
4)
отказ любого элемента ведет к отказу всей системы, то есть проектируемое устройство
считаем последовательным с точки зрения надежности.
Последовательное соединение элементов по
надежности.
Рисунок 7.28.
Учитывая независимость отказов элементов,
вероятность безотказной работы устройства равна:
N
N
Р (t) = П
Pi (t) = П e-tli = e-tSli = e-tl,
i=1
i=1
где Р (t)
– вероятность безотказной работы i-го элемента; li
– интенсивность отказа i-го элемента;
N – количество элементов данного типа. Таким образом,
расчет надежности устройства сводится к вычислению суммарной средней интенсивности
отказов. Для системы, имеющей К типов элементов, получим:
N
lS = S Ni li,
i=1
где lS - интенсивность отказов сей системы;
Ni – число элементов одного типа. Данные расчетов интенсивности
отказов элементов приведены в таблице 7.2.
Расчет интенсивности отказов элементов.
N
|
Наименование
|
Количество
|
li , отказ./час
|
Ni li,
час-1
|
1
|
Микросхемы
|
27
|
10-7
|
27 ´ 10-7
|
2
|
Резисторы
|
138
|
2 ´ 10-8
|
296 ´ 10-8
|
3
|
Конденсаторы
|
132
|
10-7
|
132 ´ 10-7
|
4
|
Соединение пайкой
|
1328
|
5 ´ 10-8
|
6640 ´ 10-8
|
5
|
Разъем
|
2
|
10-5
|
2 ´ 10-5
|
6
|
Транзисторы
|
8
|
10-7
|
8 ´ 10-7
|
7
|
Диоды
|
12
|
10-7
|
12 ´ 10-7
|
Таблица 7.2.
Общая интенсивность отказов устройства:
lS = 1,072 ´
10-4 час-1.
Время безотказной работы:
Т = 1 / lS = 9323
часов.
Зависимость вероятности безотказной работы
Р (t) дана в таблице 7.3.
Зависимость вероятности безотказной работы
от времени.
t, час.
|
200
|
1000
|
2000
|
3000
|
4000
|
8000
|
Р (t)
|
0,97
|
0,83
|
0,69
|
0,57
|
0,47
|
0,22
|
|