Студентам > Курсовые > Исследование взаимосвязи электрофизических параметров кремния
Исследование взаимосвязи электрофизических параметров кремнияСтраница: 1/3
Оглавление:
Введение………………………………………………………..3
1 Технология получения столбчатого мультикремния из кремния полученного
методом карботермического восстановления……………………….5
2 Электрофизические параметры и зависимость их от
технологий производства…………………………………………………….6
3 Диффузионная длина, фотопроводимость, время жизни…………..7
3.1 Понятие времени жизни…………………………………...8
3.2 Фотопроводимость………………………………………....9
3.3 Многозарядные ловушки в полупроводниках……….…..11
4. Установка для измерения
жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках…………………………………………….13
Заключение…………………………………………………….14
Использованные
источники…………………………………..15
Приложение……………………………………………………16
Введение.
Технология получения чистого полупроводникого
кремния на данный момент отработана достаточно хорошо. Наиболее чистые материалы
получают путем синтеза кремния в газовую фазу (SiCl3), последующую очистку и восстановления чистого
кремния.
Данный метод достаточно дорог для солнечной энергетики,
так как в солнечных элементах, где основную стоимость составляет именно
используемый кремний и применение кремния восстановленного из газовой фазы
приведет к такой цене, что преимущество солнечной (альтернативной) энергетики
перед традиционными источниками энергии, будет можно сказать с обратным знаком.
В связи с этим, рядом научных и
производственных объединений Иркутской области ведутся работы по получению
более дешевых технологий получения солнечного кремния. Технология предусматривает
карботермическое восстановление из чистых природных кварцитов, имеющихся в
Прибайкалье, и последующую его очистку путем отмывания в различных кислотах и
перекристаллизацию при различных технологических параметрах.
Возникает необходимость исследования
дефектности структур, а также одержания в нем примесей и связи этих параметров
с характеристиками технологических процессов.
В прошлой курсовой работе нами были
поставлены и апробированы на получаемых образцах методики, позволяющие получать
информацию о типе полупроводника, его электропроводности, о концентрации
носителей заряда и их подвижности. Для чего использовались две методики
измерения это: 1.Измерение удельной электропроводности четырехзондовым методом
2.Измерение ЭДС Холла. Полученные нами данные хорошо согласовались с табличными
данными, что говорило о хорошей применимости данных методов контроля для
предъявляемых требований. Прошлогодние результаты говорили о следующих
особенностях первых полученных образцов: низкая подвижность меньше на два
порядка табличных данных, что приводило к выводу о высоком содержании
электронейтральной примесей.
Институтом Геохимии СО РАН
проводились работы по совершенствованию методик получения чистого кремния, было
использовано другое сырье, которое синтезировалось в других условиях, очистка
кремния методом рафинирования ; что позитивно отразилось на данных полученных
нами. Так же ими получены данные химического анализа исследуемых нами образцов.
Задача настоящей курсовой работы,
заключалась в дальнейшем исследовании зависимости электрофизических параметров
кремния полученного методом карботермического восстановления и разработка
методики, позволяющей получать данные о кинетических процессах происходящих в
исследуемом кремнии.
1. Технология получения
столбчатого мультикремния из кремния полученного методом карботермического восстановления.
В этом году институтом Геохимии СО
РАН проводились работы по совершенствованию методик очистки кремния. Было
использовано:
1)Другое сырье, синтезировалось в
других условиях (Ирказ), где установлена специализированная печь для получения
поликристаллического кремния. 2)Институт применял метод рафинирования (двойная
перекристаллизация методом Стокбаргера).
3)Получены данные химического анализа
как для сырья, так и для полученных образцов, что позволяет говорить о степени
очистки и судить о примесях которые определяют происходящие процессы и
механизмы рассеяния в полупроводнике.
4) Необходимое дробление материла
можно осуществлять разными методами, но неизбежно одно, что при использовании,
скажем стального молотка, в образце растет концентрация Fe. В связи с этим, для дробления был
использован молибденовая насадка для пресса, молибдена мало в исходном материале,
то есть его появление можно обосновать используемой в технологическом процессе
насадкой.
5) Очистка кремния методом вакуумной
сублимации. В атмосфере 10-3 Тор осуществляется нагрев в ростовой
печи происходит испарение примесей t плав. которых меньше
t
плав. кремния. @
1450[В.В.U1] °С. Дальше доводят температуру в печи
до температуры плавления и выдерживают некоторое время для испарения более
тугоплавких примесей. Затем температуру поднимают на отметку 50-70°С выше температуры плавления для
испарения еще более тугоплавких примесей и выдерживают в этом режиме некоторое
время. Скорость роста при этом лежит около 0.8 см/час.
Рис.1
После
роста, получаем кремний, который имеет области монокристалличности схематично
изображенные на рис.1. Это так называемый, столбчатый мультикремний.
2.
Электрофизические параметры и зависимость их от технологий производства.
Электрофизические
параметры образцов приведены в таблице 1.
N
|
Тип
провод.
|
r
Ом× см
|
s
Ом-1 × см-1
|
R
см3
к
|
n
см-3
|
m
см3
в× с
|
d
см
|
7-1
|
N
|
0.145
|
6.850
|
58.140
|
1.17*1017
|
355.04
|
0.20
|
7-2
|
N
|
0.077
|
13.04
|
50.250
|
1.24*1017
|
655.26
|
0.19
|
8-1
|
N
|
5.260
|
0.190
|
566.60
|
1.10*1016
|
107.65
|
0.20
|
8-2
|
N
|
1.205
|
0.830
|
27.320
|
2.28*1017
|
22.680
|
0.20
|
9-1
|
N
|
0.470
|
2.320
|
25.600
|
2.44*1017
|
59.400
|
0.18
|
9-2
|
N
|
1.588
|
0.630
|
26.325
|
2.37*1017
|
16.580
|
0.28
|
10-1
|
N
|
1.240
|
0.800
|
13.050
|
4.79*1017
|
10.450
|
0.17
|
10-2
|
N
|
0.670
|
1.490
|
31.410
|
1.99*1017
|
46.700
|
0.20
|
10-3
|
P
|
1.920
|
0.520
|
17.360
|
3.60*1017
|
10.450
|
0.17
|
11-1
|
P
|
1.390
|
0.735
|
31.000
|
2.00*1017
|
22.300
|
0.30
|
11-2
|
P
|
0.670
|
1.500
|
22.300
|
2.80*1017
|
33.800
|
0.29
|
13-1*
|
P
|
0.274
|
3.650
|
13.890
|
4.50*1017
|
51.000
|
0.20
|
13-2*
|
P
|
0.255
|
3.920
|
25.000
|
2.50*1017
|
98.000
|
0.17
|
14-1
|
P
|
0.192
|
5.200
|
9.8750
|
6.30*1017
|
51.350
|
0.14
|
14-2
|
P
|
0.165
|
6.060
|
6.3900
|
9.78*1017
|
38.720
|
0.16
|
15-1
|
P
|
0.181
|
5.525
|
4.5400
|
1.38*1018
|
25.080
|
0.15
|
15-2
|
P
|
0.260
|
3.846
|
4.6800
|
1.34*1018
|
18.000
|
0.12
|
16-1*
|
P
|
0.094
|
10.70
|
6.2000
|
1.00*1018
|
66.340
|
0.26
|
16-2*
|
P
|
0.104
|
9.590
|
7.4500
|
8.39*1017
|
71.440
|
0.24
|
21-1*
|
P
|
0.094
|
10.64
|
8.4700
|
7.38*1017
|
90.100
|
0.20
|
21-2*
|
P
|
0.089
|
11.24
|
8.8100
|
7.10*1017
|
99.000
|
0.20
|
21-4*
|
P
|
0.093
|
10.72
|
8.1300
|
7.69*1017
|
87.200
|
0.20
|
|