Студентам > Рефераты > Автоматизированное проектирование СБИС на базовых матричных кристаллах
Автоматизированное проектирование СБИС на базовых матричных кристаллахСтраница: 3/3
ния. Учитывая большую размерность залачи проектирования,
большинство существующих САПР матричных БИС реализовано
на высо-
копроизводительных ЭВМ. Однако в последнее врем все
больше зару-
бежных фирм применяет и мини-ЭВМ.
ОСНОВНЫЕ ЭТАПЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ
Процесс проектирования матричных БИС традиционно
делится на
следующие укрупненные этапы:
1. Моделирование функционирования объекта
проектирования.
2. Разработка топологии.
3. Контроль результатов проектирования и доработка.
4. Выпуск конструкторской документации.
Рассмотрим каждый шаг в отдельности. Поскольку
матричная БИС
является ненастраиваемым и не ремонтоспособным объектом,
то необ-
ходимо еще на этапе проектирования обеспечить его
правильное
функционирование. Достижение этой цели возможно двумя
способами:
созданием макета матричных БИС на основе дискретных
элементов и
его испытанием и математическим моделированием. Первый
способ свя-
зан с большими временными и стоимостными затратами.
Поэтому макет
используется тогда, когда он специально не
разрабатывается, а уже
существует (например, при переходе от реализации
устройств на пе-
чатных платах к матричным БИС). Второй способ требует
создания эф-
фективной системы моделирования схем большого размера,
так как при
моделировании необходимо учитывать схемное окружение
матричных
БИС, которое по числу элементов во много раз больше самой
схемы.
Этап разработки топологии связан с решением
следуюших задач:
размещение элементов на БМК, трассировка соединений,
корректировка
топологии. Иногда в качестве предварительного шага
размещения ре-
шается специальная задача компоновки (распределения
элементов по
макроячейкам). В этом случае возможны различные методы
решения за-
дачи размещения. Первый метод состоит в том, чтобы после
компонов-
ки размещать группы элементов, соответствующих
макроячейкам, а за-
тем размещать элементы внутри каждой макроячейки. При
этом крите-
рий оптимальности компоновки вклкючает составляющие,
определяемые
плотностью заполнения макроячеек и связностью элементов
макроячей-
ки. Достоинствами этого метода являются сокращение
размерности за-
дачи размещения и сведение исходной задачи к
традиционным задачам
компоновки и размещения. Возможность применения
традиционных мето-
дов компоновки предопределяется тем, что условие
существования ре-
ализации группы элементов в макроячейке для получивших
распростра-
нение БМК легко выражается через суммарную площадь
элементов и от-
ношение совместимости пар элементов. Отметим, что так как
располо-
жение элементов внутри макроячеек существенно влияет
на условия
трассировки соединений между макроячейками,
рассмотренный метод
решения задачи размещения для некоторых типов БМК
может давать
сравнительно низкие результаты.
Другой метод размещения состоит в распределении
элементов по
макроячейкам с учетом координат макроячеек. В этом
случае в ходе
компоновки определяются координаты элементов с точностью
до разме-
ров макроячеек и появляется возможность учета положения
транзитных
трасс. Для матричных схем небольшой степени интеграции
(до 1000
элементов на кристалле) применяются модификации
традиционных алго-
ритмов размещения и трассировки. Для СБИС на БМК
необходима разра-
ботка специальных методов.
Задача корректировки топологии возникает в связи с
тем, что
существующие алгоритмы размещения и трассировки могут
не найти
полную реализацию объекта проектирования на БМК.
Возможна ситуа-
ция, когда алгоритм не находит размещение всех элементов
на крист-
алле, хотя суммарная площадь элементов меньше площади
ячеек на
кристалле. Это положение может быть обусловлено как
сложностью
формы элементов, так и необходимостью выделения ячеек для
реализа-
ции транзитных трасс. Задача определения минимального
числа макро-
ячеек для размещения элементов сложной формы
представляет собой
известную задачу покрытия.
Возможность отсутствия полной трассировки
обусловлена эврист-
ическим характером применяемых алгоритмов. Кроме того, в
отличие
от печатных плат навесные проводники в матричных БИС
запрещены.
Поэтому САПР матричных БИС обязательно включает средства
корректи-
ровки топологии. При этом в процессе корректировки
выполненяются
следующие операции: выделение линии содиняемых
фрагментов; измене-
ние положения элементов и трасс с контролем вносимых
изменений;
автоматическая трассировки указанных соединений;
контроль соот-
ветствия результатов трассировки исходной схеме. Уже
сейчас акту-
альной является задача перепроектирования любого
фрагмента тополо-
гии. Для матричных БИС таким фрагментом может быть канал
для трас-
сировки, или макроячейка, в которой варьируется
размещение элемен-
тов и др. Решение последней задачи, помимо реализации
функций про-
ектирования с заданными граничными условиями
(определяемыми окру-
жением фрагмента), требует разработки аппарата
формирования
подсхемы, соответствующей выделенному фрагменту.
На этапе контроля проверяется адекватность
полученного проек-
та исходным данным. С этой целью прежде всего
контролируется соот-
ветствие топологии исходной принципиальной (логической)
схеме. Не-
обходимость данного вида контроля обусловлена
корректировкой топо-
логии, выполненной разработчиком, поскольку этог
процесс может
сопровождаться внесением ошибок. В настоящее время
известны два
способа решения рассматриваемой задачи. Первый сводится
к восста-
новлению схемы по топологии и дальнейшему сравнению ее с
исходной.
Эта задача близка к проверке изоморфизма графов. Однако
на практи-
ке для ее решения может быть получен приемлемый по
трудоемкости
алгоритм ввиду существования фиксированного соответствия
между не-
которыми элементами сравниваемых объектов.
Дополнительная слож-
ность данной задачи связана с тем, что в процессе
проектирования
происходит распределение инвариантных объектов (например,
логичес-
ки эквивалентных выводов элементов), поэтому для
логически тож-
дественных схем могут не существовать одинаковые описания
и, сле-
довательно, требуются специальные модели,
отображающие инвари-
антные элементы. В общем случае универсальные модели для
представ-
ления инвариантных элементов не известны, что и явилось
одной из
причин развития второго способа, согласно которому
проводится пов-
торное логическое моделирование восстановленной схемы.
Функционирование спроектированной схемы мотает
отличаться от
требуемого не только из-за ошибок, внесенных
конструктором, но и в
результате образования паразитных элементов. Поэтому для
более
полной оценки работоспособности матричных БИС при
восстановлении
схемы по топологии желательно вычислять значения
параметров пара-
зитных емкостей и сопротивлений и учитывать их при
моделировании
на логическом и схемотехническом уровнях.
Существуют причины, по которым перечисленные методы
контроля
не позволяют гарантировать работоспособность матричных
БИС. К ним
относятся, например, несовершенства моделей и методов
моделирова-
ния. Поэтому контроль с помощью моделирования дополняется
контро-
лем опытного образца. Для этого на этапе лроектирования
с помощью
специальных программ осуществляется генерация тестов для
проверки
готовых БИС. Отметим, что при проектировании матричных
БИС прове-
дение трудоемкого геометрического контроля не требуется,
так как
трассировка ведется на ДРП, а топология элементов
контролируется
при их разработке.
Заключительным этапом проектирования матричных БИС
является
выпуск конструкторской документации, которая содержит
информацию
(на соответствующих носителях) для управления
технологическими
станками-автоматами и сопроводительные чертежи и таблицы,
состав и
содержание которых регламентируются ГОСТами, а оформление
- требо-
ваниями ЕСКД. Для автоматизированного выпуска графической
и текст-
овой документации обычно разрабатывается входной
язык, который
позволяет: компактно и наглядно описывать отдельные
фрагменты до-
кумента; размещать отдельные фрагменты на площади
документа;
извлекать требуемую информацию из архива и включать ее во
фрагмен-
ты документов; распечатывать требуемый документ.
Copyright © Radioland. Все права защищены. Дата публикации: 2004-09-01 (359 Прочтено) |